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[IQ測試] 芯片测试

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發表於 2016-6-30 21:04:37 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
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芯片测试:有2k块芯片,已知好芯片比坏芯片多.请设计算法从其中找出一片  好芯片,说明你所用的比较次数上限.
5 S$ I+ h* [5 [# O% O" }  其中:好芯片和其它芯片比较时,能正确给出另一块芯片是好还是坏.
( N8 w% X: g! g' E  坏芯片和其它芯片比较时,会随机的给出好或是坏。
" S7 u0 N5 [$ S. u+ Y% `
* u% N$ o0 b& ?; {5 |5 j答案:
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